Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Applied survival analysis regression modeling of time-to-event data için kapak resmi
Applied survival analysis regression modeling of time-to-event data
Yazar 
Hosmer, David W. Lemeshow, Stanley. May, Susanne.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Available by subscription from Safari Books Online
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0826/2007035523-b.html
Volltext http://proquest.tech.safaribooksonline.de/9781118211588
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Applied logistic regression. için kapak resmi
Applied logistic regression.
Yazar 
Hosmer, David W. Lemeshow, Stanley. Sturdivant, Rodney X.
Yer Numarası 
QA278.2 H67 2013
Format: 
Durum 
Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Applied logistic regression için kapak resmi
Applied logistic regression
Yazar 
Hosmer, David W. Lemeshow, Stanley. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471722146
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/109855848
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/bios/wiley042/00036843.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: