Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
9 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
VLSI Design and Test for Systems Dependability için kapak resmi
VLSI Design and Test for Systems Dependability
Yazar 
Asai, Shojiro. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-4-431-56594-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
VLSI Design and Test 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI Design and Test 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers
Yazar 
Rajaram, S. editor. Balamurugan, N.B. editor. Gracia Nirmala Rani, D. editor. Singh, Virendra. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-5950-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits için kapak resmi
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
Yazar 
Jayanthy, S. author. Bhuvaneswari, M.C. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-2493-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers
Yazar 
Sengupta, Anirban. editor. Dasgupta, Sudeb. editor. Singh, Virendra. editor. Sharma, Rohit. editor. Kumar Vishvakarma, Santosh. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-32-9767-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
VLSI Design and Test 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI Design and Test 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Revised Selected Papers
Yazar 
Gaur, Manoj Singh. editor. Zwolinski, Mark. editor. Laxmi, Vijay. editor. Boolchandani, Dharmendra. editor. Sing, Virendra. editor.
Yer Numarası 
ONLINE(335156.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-42024-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Progress in VLSI Design and Test 16th International Symposium, VDAT 2012, Shibpur, India, July 1-4, 2012. Proceedings için kapak resmi
Progress in VLSI Design and Test 16th International Symposium, VDAT 2012, Shibpur, India, July 1-4, 2012. Proceedings
Yazar 
Rahaman, Hafizur. editor. Chattopadhyay, Sanatan. editor. Chattopadhyay, Santanu. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-31494-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
VLSI test principles and architectures design for testability için kapak resmi
VLSI test principles and architectures design for testability
Yazar 
Wang, Laung-Terng. Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D. Wen, Xiaoqing.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123705976
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Advanced research in VLSI proceedings of the fifth MIT conference, March 1988 için kapak resmi
Advanced research in VLSI proceedings of the fifth MIT conference, March 1988
Yazar 
Allen, Jonathan, 1934- Leighton, Frank Thomson. Massachusetts Institute of Technology. Microsystems Research Center. MIT Conference on Advanced Research in VLSI (5th : 1988 : Cambridge, Mass.)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6276833
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Logic testing and design for testability için kapak resmi
Logic testing and design for testability
Yazar 
Fujiwara, Hideo.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6267264
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: