Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Strain-engineered MOSFETs için kapak resmi
Strain-engineered MOSFETs
Yazar 
Maiti, C. K. Maiti, T. K.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Semiconductor process reliability in practice için kapak resmi
Semiconductor process reliability in practice
Yazar 
Gan, Zhenghao. Wong, Waisum. Liou, Juin J.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies için kapak resmi
Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies
Yazar 
Strong, Alvin Wayne, 1946-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361029
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits için kapak resmi
Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits
Yazar 
Ker, Ming-Dou. Hsu, Sheng-Fu.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5453758
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: