Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Kernel methods for pattern analysis için kapak resmi
Kernel methods for pattern analysis
Yazar 
Shawe-Taylor, John. Cristianini, Nello.
Yer Numarası 
Q325.5.S475 2004
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Random graphs for statistical pattern recognition için kapak resmi
Random graphs for statistical pattern recognition
Yazar 
Marchette, David J. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/047172209X
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: