Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(29)
Bondavalli, Andrea. editor.
(2)
Vinnem, Jan-Erik. author.
(2)
A Min, Tjoa. editor.
(1)
Adams, Kevin MacG. author.
(1)
Dil
Konu
Reliability.
(21)
Industrial safety.
(18)
Quality control.
(17)
Reliability (Engineering)
(8)
Electronic circuits.
(4)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
48 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Reliability engineering için kapak resmi
Reliability engineering
Yazar 
Kapur, Kailash C., 1941- author. Pecht, Michael, author.
Yer Numarası 
ONLINE(341870.1)
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/choice/publicfullrecord.aspx?p=1658817
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118841716
MyiLibrary http://www.myilibrary.com?id=595055
Image http://images.contentreserve.com/ImageType-100/0128-1/{879AE24E-0D4B-4A31-AF41-37FA562C2FA3}Img100.jpg
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Reliability of large and complex systems için kapak resmi
Reliability of large and complex systems
Yazar 
Kołowrocki, Krzysztof, author.
Yer Numarası 
ONLINE(355886.1)
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080999494
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Ternary Networks Reliability and Monte Carlo için kapak resmi
Ternary Networks Reliability and Monte Carlo
Yazar 
Gertsbakh, Ilya. author. Shpungin, Yoseph. author. Vaisman, Radislav. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-06440-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Reliability Engineering Theory and Practice için kapak resmi
Reliability Engineering Theory and Practice
Yazar 
Birolini, Alessandro. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-39535-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Human Reliability, Error, and Human Factors in Power Generation için kapak resmi
Human Reliability, Error, and Human Factors in Power Generation
Yazar 
Dhillon, B. S. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-04019-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
The theory and applications of reliability with emphasis on Bayesian and nonparametric methods için kapak resmi
The theory and applications of reliability with emphasis on Bayesian and nonparametric methods
Yazar 
Conference on the Theory and Applications of Reliability with Emphasis on Bayesian and Nonparametric Methods (1975 : University of South Florida) Tsokos, Chris P. Shimi, I. N. United States. Air Force. Office of Scientific Research. University of South Florida.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780127021010
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Fundamentals of reliability engineering : applications in multistage interconnection networks için kapak resmi
Fundamentals of reliability engineering : applications in multistage interconnection networks
Yazar 
Gunawan, Indra.
Yer Numarası 
ONLINE(342010.1)
Elektronik Erişim 
Books24x7 http://www.books24x7.com/marc.asp?bookid=63558
Ebook Library http://public.eblib.com/choice/publicfullrecord.aspx?p=1641079
Ebook Library http://www.UTS.eblib.com.AU/EBLWeb/patron/?target=patron&extendedid=P_1641079_0
ebrary http://site.ebrary.com/id/10843879
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118914410
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Reliability prediction from burn-in data fit to reliability models için kapak resmi
Reliability prediction from burn-in data fit to reliability models
Yazar 
Bernstein, Joseph.
Yer Numarası 
ONLINE(355921.1)
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780128007471
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Computer Safety, Reliability, and Security 33rd International Conference, SAFECOM 2014, Florence, Italy, September 10-12, 2014. Proceedings için kapak resmi
Computer Safety, Reliability, and Security 33rd International Conference, SAFECOM 2014, Florence, Italy, September 10-12, 2014. Proceedings
Yazar 
Bondavalli, Andrea. editor. Di Giandomenico, Felicita. editor. (orcid)0000-0002-8760-7299 SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-10506-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Computer Safety, Reliability, and Security SAFECOMP 2014 Workshops: ASCoMS, DECSoS, DEVVARTS, ISSE, ReSA4CI, SASSUR. Florence, Italy, September 8-9, 2014, Proceedings için kapak resmi
Computer Safety, Reliability, and Security SAFECOMP 2014 Workshops: ASCoMS, DECSoS, DEVVARTS, ISSE, ReSA4CI, SASSUR. Florence, Italy, September 8-9, 2014, Proceedings
Yazar 
Bondavalli, Andrea. editor. Ceccarelli, Andrea. editor. Ortmeier, Frank. editor. (orcid)0000-0001-6186-4142 SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-10557-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Availability, Reliability, and Security in Information Systems IFIP WG 8.4, 8.9, TC 5 International Cross-Domain Conference, CD-ARES 2014 and 4th InternationalWorkshop on Security and Cognitive Informatics for Homeland Defense, SeCIHD 2014, Fribourg, Switzerland, September 8-12, 2014. Proceedings için kapak resmi
Availability, Reliability, and Security in Information Systems IFIP WG 8.4, 8.9, TC 5 International Cross-Domain Conference, CD-ARES 2014 and 4th InternationalWorkshop on Security and Cognitive Informatics for Homeland Defense, SeCIHD 2014, Fribourg, Switzerland, September 8-12, 2014. Proceedings
Yazar 
Teufel, Stephanie. editor. A Min, Tjoa. editor. You, Illsun. editor. Weippl, Edgar. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-10975-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications için kapak resmi
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
Yazar 
Franco, Jacopo. author. Kaczer, Ben. author. Groeseneken, Guido. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-94-007-7663-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: