Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Machine Learning in Modeling and Simulation Methods and Applications için kapak resmi
Machine Learning in Modeling and Simulation Methods and Applications
Yazar 
Rabczuk, Timon. editor. Bathe, Klaus-Jürgen. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-36644-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Applied Computation and Security Systems Volume Two için kapak resmi
Applied Computation and Security Systems Volume Two
Yazar 
Chaki, Rituparna. editor. Saeed, Khalid. editor. Choudhury, Sankhayan. editor. Chaki, Nabendu. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-81-322-1988-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Identifying Product and Process State Drivers in Manufacturing Systems Using Supervised Machine Learning için kapak resmi
Identifying Product and Process State Drivers in Manufacturing Systems Using Supervised Machine Learning
Yazar 
Wuest, Thorsten. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-17611-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
AIDA-CMK: Multi-Algorithm Optimization Kernel Applied to Analog IC Sizing için kapak resmi
AIDA-CMK: Multi-Algorithm Optimization Kernel Applied to Analog IC Sizing
Yazar 
Lourenço, Ricardo. author. Lourenço, Nuno. author. Horta, Nuno. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-15955-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: