Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Reliability and availability of cloud computing için kapak resmi
Reliability and availability of cloud computing
Yazar 
Bauer, Eric. Adams, Randee. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6266788
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Secure and resilient software : requirements, test cases, and testing methods için kapak resmi
Secure and resilient software : requirements, test cases, and testing methods
Yazar 
Merkow, Mark S., author. Raghavan, Lakshmikanth.
Yer Numarası 
QA76.76 .T48 M47 2012
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Secure and resilient software development için kapak resmi
Secure and resilient software development
Yazar 
Merkow, Mark S., author. Raghavan, Lakshmikanth.
Yer Numarası 
QA76.76 .D47 M466 2010
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Trustworthy computing analytical and quantitative engineering evaluation için kapak resmi
Trustworthy computing analytical and quantitative engineering evaluation
Yazar 
Sahinoglu, Mehmet, 1951- Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0739/2006033567-b.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470127872
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: