Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
6 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Enterprise software architecture and design entities, services, and resources için kapak resmi
Enterprise software architecture and design entities, services, and resources
Yazar 
Duggan, Dominic.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118180518
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10529323
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Design of multithreaded software the entity-life modeling approach için kapak resmi
Design of multithreaded software the entity-life modeling approach
Yazar 
Sandén, Bo. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6381797
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Dedicated digital processors methods in hardware/software system design için kapak resmi
Dedicated digital processors methods in hardware/software system design
Yazar 
Mayer-Lindenberg, F.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Available by subscription from Safari Books Online
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/047009284X
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=175043
http://proquest.safaribooksonline.com/9780470092828
Volltext http://proquest.tech.safaribooksonline.de/9780470092828
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Software metrics and software metrology için kapak resmi
Software metrics and software metrology
Yazar 
Abran, Alain, 1949-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6381791
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Dependability benchmarking for computer systems için kapak resmi
Dependability benchmarking for computer systems
Yazar 
Kanoun, Karama. Spainhower, Lisa.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6129686
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Digital signal processing a computer science perspective için kapak resmi
Digital signal processing a computer science perspective
Yazar 
Stein, Jonathan Y. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE(318790.1)
Elektronik Erişim 
Available by subscription from Safari Books Online
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/047120059X
MyiLibrary http://www.myilibrary.com?id=55617
Table of contents http://catdir.loc.gov/catdir/toc/onix05/00035905.html
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/bios/wiley045/00035905.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: