Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Integrated Circuit Design Tape-out Process with Open-Source Tools için kapak resmi
Integrated Circuit Design Tape-out Process with Open-Source Tools
Yazar 
Ortega Cisneros, Susana. author. Baungarten Leon, Emilio Isaac. author. (orcid)0000-0001-6243-219X Mejia Alvarez, Pedro. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-92108-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Applied OSS Reliability Assessment Modeling, AI and Tools Mathematics and AI for OSS Reliability Assessment için kapak resmi
Applied OSS Reliability Assessment Modeling, AI and Tools Mathematics and AI for OSS Reliability Assessment
Yazar 
Tamura, Yoshinobu. author. (orcid)0000-0001-7665-5765 Yamada, Shigeru. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-64803-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: