Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
17 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Semiconductor Physical Electronics için kapak resmi
Semiconductor Physical Electronics
Yazar 
Li, Sheng S. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37766-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Thin Films and Heterostructures for Oxide Electronics için kapak resmi
Thin Films and Heterostructures for Oxide Electronics
Yazar 
Ogale, Satischandra B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b136780
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Charged Semiconductor Defects Structure, Thermodynamics and Diffusion için kapak resmi
Charged Semiconductor Defects Structure, Thermodynamics and Diffusion
Yazar 
Seebauer, Edmund G. author. Kratzer, Meredith C. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84882-059-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Fundamentals of Solid State Engineering için kapak resmi
Fundamentals of Solid State Engineering
Yazar 
Razeghi, Manijeh. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-92168-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Microscopy of Semiconducting Materials 2007 için kapak resmi
Microscopy of Semiconducting Materials 2007
Yazar 
Cullis, A. G. editor. Midgley, P. A. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8615-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Fundamentals of Nanoscale Film Analysis için kapak resmi
Fundamentals of Nanoscale Film Analysis
Yazar 
Alford, Terry L. author. Feldman, Leonard C. author. Mayer, James W. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-29261-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Frontiers of Ferroelectricity A Special Issue of the Journal of Materials Science için kapak resmi
Frontiers of Ferroelectricity A Special Issue of the Journal of Materials Science
Yazar 
Lang, Sidney B. author. Chan, Helen L. W. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-38039-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Power Management of Digital Circuits in Deep Sub-Micron CMOS Technologies için kapak resmi
Power Management of Digital Circuits in Deep Sub-Micron CMOS Technologies
Yazar 
Henzler, Stephan. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-5081-X
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Micro- and Opto-Electronic Materials and Structures: Physics, Mechanics, Design, Reliability, Packaging için kapak resmi
Micro- and Opto-Electronic Materials and Structures: Physics, Mechanics, Design, Reliability, Packaging
Yazar 
Suhir, E. editor. Lee, Y. C. editor. Wong, C. P. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-32989-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
History of Semiconductor Engineering için kapak resmi
History of Semiconductor Engineering
Yazar 
Lojek, Bo. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-34258-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Nanoscale Transistors Device Physics, Modeling and Simulation için kapak resmi
Nanoscale Transistors Device Physics, Modeling and Simulation
Yazar 
Lundstrom, Mark S. author. Guo, Jing. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-28003-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Micromachined Thin-Film Sensors for SOI-CMOS Co-Integration için kapak resmi
Micromachined Thin-Film Sensors for SOI-CMOS Co-Integration
Yazar 
Laconte, J. author. Flandre, D. author. Raskin, J. -P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-28843-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: