Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Reliability prediction for microelectronics için kapak resmi
Reliability prediction for microelectronics
Yazar 
Bernstein, Joseph B., author. Bensoussan, Alain A., author. Bender, Emmanuel (Carl), author.
Yer Numarası 
TK7874
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394210961
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Reliability analysis of modern power systems için kapak resmi
Reliability analysis of modern power systems
Yazar 
Saket, R. K., editor. Sanjeevikumar, Padmanaban, 1978-
Yer Numarası 
TA169 .S234 2024
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394226771
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Computational intelligence in sustainable reliability engineering için kapak resmi
Computational intelligence in sustainable reliability engineering
Yazar 
Malik, S. C., editor.
Yer Numarası 
TA169 .C65 2023
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119865421
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: