Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
8 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Applied Probability için kapak resmi
Applied Probability
Yazar 
Lange, Kenneth. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7165-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Applied Probability and Statistics için kapak resmi
Applied Probability and Statistics
Yazar 
Lefebvre, Mario. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-28505-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Applied statistics and probability for engineers için kapak resmi
Applied statistics and probability for engineers
Yazar 
Montgomery, Douglas C. Runger, George C., ort. yaz.
Yer Numarası 
QA276.12 M646 2014
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Applied statistics and probability for engineers için kapak resmi
Applied statistics and probability for engineers
Yazar 
Montgomery, Douglas C. Runger, George C., ort. yaz.
Yer Numarası 
QA276.12 .M645 2007
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Applied statistics and probability for engineers için kapak resmi
Applied statistics and probability for engineers
Yazar 
Montgomery, Douglas C. Runger, George C., ort. yaz.
Yer Numarası 
QA276.12 M645 2003
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~2
Rafta:
Kopya:
6. 
High-dimensional statistics için kapak resmi
High-dimensional statistics
Yazar 
Giraud, Christophe, author.
Yer Numarası 
QC20.7 .D55 G57 2015
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Data analysis and approximate models : model choice, location-scale, analysis of variance, nonparametric regression and image analysis için kapak resmi
Data analysis and approximate models : model choice, location-scale, analysis of variance, nonparametric regression and image analysis
Yazar 
Davies, Patrick Laurie, author. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
QA273 .A35
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Multiple comparison procedures için kapak resmi
Multiple comparison procedures
Yazar 
Hochberg, Yosef. Tamhane, Ajit C. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316672
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: