Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering.
(14)
Electronics.
(12)
Engineering design.
(5)
Computer engineering.
(3)
Operating systems (Computers).
(3)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
21 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques için kapak resmi
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
Yazar 
Sayil, Selahattin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-69673-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Design and Testing of Digital Microfluidic Biochips için kapak resmi
Design and Testing of Digital Microfluidic Biochips
Yazar 
Zhao, Yang. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331239.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0370-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Models in Hardware Testing Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault için kapak resmi
Models in Hardware Testing Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
Yazar 
Wunderlich, Hans-Joachim. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3282-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Verification, validation, and testing of engineered systems için kapak resmi
Verification, validation, and testing of engineered systems
Yazar 
Engel, Avner.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Books24x7 http://www.books24x7.com/marc.asp?bookid=35180
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470618851
http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9780470618851
http://proquest.safaribooksonline.com/?fpi=9781118029312
http://proquest.safaribooksonline.com/9781118029312
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2nd Edition için kapak resmi
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2nd Edition
Yazar 
Sachdev, Manoj. editor. Gyvez, José Pineda de. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-46547-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Accurate and Robust Spectral Testing with Relaxed Instrumentation Requirements için kapak resmi
Accurate and Robust Spectral Testing with Relaxed Instrumentation Requirements
Yazar 
Zhuang, Yuming. author. Chen, Degang. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-77718-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices için kapak resmi
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Yazar 
Girard, Patrick. editor. Nicolici, Nicola. editor. Wen, Xiaoqing. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0928-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations için kapak resmi
Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
Yazar 
Champac, Victor. author. Garcia Gervacio, Jose. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-75465-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Soft Errors in Modern Electronic Systems için kapak resmi
Soft Errors in Modern Electronic Systems
Yazar 
Nicolaidis, Michael. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6993-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test için kapak resmi
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test
Yazar 
Pavlov, Andrei. author. Sachdev, Manoj. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
New Methods of Concurrent Checking için kapak resmi
New Methods of Concurrent Checking
Yazar 
Göessel, Michael. author. Ocheretny, Vitaly. author. Sogomonyan, Egor. author. Marienfeld, Daniel. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8420-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability için kapak resmi
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: