Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Elements of electromigration : electromigration in 3D IC technology için kapak resmi
Elements of electromigration : electromigration in 3D IC technology
Yazar 
Tu, K. N. (King-Ning), 1937- author. Liu, Yingxia, author.
Yer Numarası 
TN690
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003384281
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Advanced MOS Devices and their Circuit Applications. için kapak resmi
Advanced MOS Devices and their Circuit Applications.
Yazar 
Beohar, Ankur Mathew, Ribu Upadhyay, Abhishek Kumar. Vishvakarma, Santosh Kumar.
Yer Numarası 
TA403
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781032670270
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Commercializing nanotechnology : from laboratory to market için kapak resmi
Commercializing nanotechnology : from laboratory to market
Yazar 
Quazi, Hebab A., author.
Yer Numarası 
HD9696 .A2
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780429188916
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: