Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Theory and Applications of Satisfiability Testing – SAT 2019 22nd International Conference, SAT 2019, Lisbon, Portugal, July 9–12, 2019, Proceedings için kapak resmi
Theory and Applications of Satisfiability Testing – SAT 2019 22nd International Conference, SAT 2019, Lisbon, Portugal, July 9–12, 2019, Proceedings
Yazar 
Janota, Mikoláš. editor. (orcid)0000-0003-3487-784X Lynce, Inês. editor. (orcid)0000-0003-4868-415X SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-24258-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Testing Software and Systems 31st IFIP WG 6.1 International Conference, ICTSS 2019, Paris, France, October 15–17, 2019, Proceedings için kapak resmi
Testing Software and Systems 31st IFIP WG 6.1 International Conference, ICTSS 2019, Paris, France, October 15–17, 2019, Proceedings
Yazar 
Gaston, Christophe. editor. (orcid)0000-0001-6865-5108 Kosmatov, Nikolai. editor. (orcid)0000-0003-1557-2813 Le Gall, Pascale. editor. (orcid)0000-0002-8955-6835 SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-31280-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Theory and Applications of Satisfiability Testing - SAT 2014 17th International Conference, Held as Part of the Vienna Summer of Logic, VSL 2014, Vienna, Austria, July 14-17, 2014, Proceedings için kapak resmi
Theory and Applications of Satisfiability Testing - SAT 2014 17th International Conference, Held as Part of the Vienna Summer of Logic, VSL 2014, Vienna, Austria, July 14-17, 2014, Proceedings
Yazar 
Sinz, Carsten. editor. Egly, Uwe. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-09284-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging için kapak resmi
Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging
Yazar 
Gan, Chong Leong,. author. Huang, Chen-Yu,. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-26708-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Computer technology and computer programming : new research and strategies için kapak resmi
Computer technology and computer programming : new research and strategies
Yazar 
Antonakos, James L.
Yer Numarası 
QA76.6 .C66 2011
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: