Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(14)
Chaturvedi, Nitin. editor.
(2)
Dasgupta, Sudeb. editor.
(2)
Dwivedi, Devesh. editor.
(2)
Gupta, Anu. editor.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electronic circuits.
(7)
Electronic Circuits and Systems.
(5)
Computer networks .
(4)
Computer Communication Networks.
(3)
Computer Engineering and Networks.
(3)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
18 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
VLSI Design and Test for Systems Dependability için kapak resmi
VLSI Design and Test for Systems Dependability
Yazar 
Asai, Shojiro. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-4-431-56594-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
VLSI Design and Test 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI Design and Test 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers
Yazar 
Rajaram, S. editor. Balamurugan, N.B. editor. Gracia Nirmala Rani, D. editor. Singh, Virendra. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-5950-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits için kapak resmi
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
Yazar 
Jayanthy, S. author. Bhuvaneswari, M.C. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-2493-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers
Yazar 
Sengupta, Anirban. editor. Dasgupta, Sudeb. editor. Singh, Virendra. editor. Sharma, Rohit. editor. Kumar Vishvakarma, Santosh. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-32-9767-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
VLSI Design and Test 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI Design and Test 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers
Yazar 
Kaushik, Brajesh Kumar. editor. Dasgupta, Sudeb. editor. Singh, Virendra. editor. (orcid)0000-0002-9113-5167 SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-10-7470-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
VLSI Design and Test 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI Design and Test 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Revised Selected Papers
Yazar 
Gaur, Manoj Singh. editor. Zwolinski, Mark. editor. Laxmi, Vijay. editor. Boolchandani, Dharmendra. editor. Sing, Virendra. editor.
Yer Numarası 
ONLINE(335156.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-42024-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Progress in VLSI Design and Test 16th International Symposium, VDAT 2012, Shibpur, India, July 1-4, 2012. Proceedings için kapak resmi
Progress in VLSI Design and Test 16th International Symposium, VDAT 2012, Shibpur, India, July 1-4, 2012. Proceedings
Yazar 
Rahaman, Hafizur. editor. Chattopadhyay, Sanatan. editor. Chattopadhyay, Santanu. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-31494-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
VLSI test principles and architectures design for testability için kapak resmi
VLSI test principles and architectures design for testability
Yazar 
Wang, Laung-Terng. Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D. Wen, Xiaoqing.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123705976
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Emerging VLSI Devices, Circuits and Architectures Proceedings of the 27th International Symposium, VDAT 2023 için kapak resmi
Emerging VLSI Devices, Circuits and Architectures Proceedings of the 27th International Symposium, VDAT 2023
Yazar 
Gupta, Anu. editor. Pandey, Jai Gopal. editor. (orcid)0000-0001-9937-7438 Chaturvedi, Nitin. editor. Dwivedi, Devesh. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-97-5269-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
VLSI for Embedded Intelligence Proceedings of the 27th International Symposium, VDAT 2023 için kapak resmi
VLSI for Embedded Intelligence Proceedings of the 27th International Symposium, VDAT 2023
Yazar 
Gupta, Anu. editor. Pandey, Jai Gopal. editor. (orcid)0000-0001-9937-7438 Chaturvedi, Nitin. editor. Dwivedi, Devesh. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-97-3756-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Biomedical Signal and Image Processing with Artificial Intelligence için kapak resmi
Biomedical Signal and Image Processing with Artificial Intelligence
Yazar 
Paunwala, Chirag. editor. Paunwala, Mita. editor. Kher, Rahul. editor. Thakkar, Falgun. editor. Kher, Heena. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-15816-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Machine learning for VLSI chip design için kapak resmi
Machine learning for VLSI chip design
Yazar 
Kumar, Abhishek, editor. Tripathi, Suman Lata, editor. Srinivasa Rau, K., editor.
Yer Numarası 
TK7874 .M33 2023
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119910497
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: