Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits için kapak resmi
Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits
Yazar 
Goel, Sandeep K, editor of compilation. Chakrabarty, Krishnendu, editor of compilation.
Yer Numarası 
TK7871.99 .M44 T43 2014
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Counterfeit Integrated Circuits Detection and Avoidance için kapak resmi
Counterfeit Integrated Circuits Detection and Avoidance
Yazar 
Tehranipoor, Mark (Mohammad). author. Guin, Ujjwal. author. Forte, Domenic. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-11824-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Defects in microelectronic materials and devices için kapak resmi
Defects in microelectronic materials and devices
Yazar 
Fleetwood, D. M. (Dan M.) Pantelides, Sokrates T. Schrimpf, Ronald Donald.
Yer Numarası 
TK7871 .D44 2009
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
High-speed VLSI interconnections için kapak resmi
High-speed VLSI interconnections
Yazar 
Goel, Ashok K., 1953-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5201516
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: