Interfacial Compatibility in Microelectronics Moving Away from the Trial and Error Approach için kapak resmi
Başlık:
Interfacial Compatibility in Microelectronics Moving Away from the Trial and Error Approach
Yazar:
Laurila, Tomi. author.
ISBN:
9781447124702
Fiziksel Tanımlama:
IX, 217p. 128 illus., 15 illus. in color. online resource.
Seri:
Microsystems,
Seri Başlığı:
Microsystems, 1389-2134
Tüzel Kişi Ek Girişi:
Ayırtma:
Kopya:

Rafta:*

Kütüphane
Materyal Türü
Demirbaş Numarası
Yer Numarası
Durumu/İade Tarihi
Materyal Ayırtma
Arıyor...
E-Kitap 173452-2001 ONLINE
Arıyor...

On Order