Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Semiconductor process reliability in practice için kapak resmi
Semiconductor process reliability in practice
Yazar 
Gan, Zhenghao. Wong, Waisum. Liou, Juin J.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
On-Chip Electro-Static Discharge (ESD) Protection for Radio-Frequency Integrated Circuits için kapak resmi
On-Chip Electro-Static Discharge (ESD) Protection for Radio-Frequency Integrated Circuits
Yazar 
Cui, Qiang. author. Liou, Juin J. author. Hajjar, Jean-Jacques. author. Salcedo, Javier. author. Zhou, Yuanzhong. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-10819-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: