Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Formal Modeling and Analysis of Timed Systems 21st International Conference, FORMATS 2023, Antwerp, Belgium, September 19-21, 2023, Proceedings için kapak resmi
Formal Modeling and Analysis of Timed Systems 21st International Conference, FORMATS 2023, Antwerp, Belgium, September 19-21, 2023, Proceedings
Yazar 
Petrucci, Laure. editor. Sproston, Jeremy. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
XX(521082.1)
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-42626-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
The VLSI handbook için kapak resmi
The VLSI handbook
Yazar 
Chen, Wai-Kai, 1936-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Logic testing and design for testability için kapak resmi
Logic testing and design for testability
Yazar 
Fujiwara, Hideo.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6267264
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: