Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(10)
Wiley InterScience (Online service)
(5)
Amelinckx, S. (Severin)
(4)
Cullis, A. G. editor.
(2)
Fultz, Brent. author.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
29 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Microscopy of Semiconducting Materials 2007 için kapak resmi
Microscopy of Semiconducting Materials 2007
Yazar 
Cullis, A. G. editor. Midgley, P. A. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8615-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials için kapak resmi
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Yazar 
Fultz, Brent. author. Howe, James. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333265.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-29761-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials için kapak resmi
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Yazar 
Fultz, Brent. author. Howe, James M. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-73886-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Electron microscopy and structure of materials : proceedings için kapak resmi
Electron microscopy and structure of materials : proceedings
Yazar 
International Materials Symposium (5th : 1971 : University of California, Berkeley) Thomas, Gareth. , ed. Fulrath, Richard M. , ed. Fisher, Robert M., ed. University Conference on Ceramic Science (7th : 1971 : Berkeley)
Yer Numarası 
TA 407 I65 1972
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Scanning Probe Microscopy of Functional Materials Nanoscale Imaging and Spectroscopy için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy of Functional Materials Nanoscale Imaging and Spectroscopy
Yazar 
Kalinin, Sergei V. editor. Gruverman, Alexei. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7167-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Transmission Electron Microscopy A Textbook for Materials Science için kapak resmi
Transmission Electron Microscopy A Textbook for Materials Science
Yazar 
Williams, David B. author. Carter, C. Barry. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-76501-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
EMC 2008 14th European Microscopy Congress 1–5 September 2008, Aachen, Germany Volume 2: Materials Science için kapak resmi
EMC 2008 14th European Microscopy Congress 1–5 September 2008, Aachen, Germany Volume 2: Materials Science
Yazar 
Richter, Silvia. editor. Schwedt, Alexander. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85226-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Algarve, Portugal 1–13 October 2002 için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Algarve, Portugal 1–13 October 2002
Yazar 
Vilarinho, Paula Maria. editor. Rosenwaks, Yossi. editor. Kingon, Angus. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3019-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Microscopy of Semiconducting Materials Proceedings of the 14th Conference, April 11–14, 2005, Oxford, UK için kapak resmi
Microscopy of Semiconducting Materials Proceedings of the 14th Conference, April 11–14, 2005, Oxford, UK
Yazar 
Cullis, A. G. editor. Hutchison, J. L. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-31915-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy için kapak resmi
Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Yazar 
Browning, Nigel D.. Pennycook, Stephen J..
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Access by subscription
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Handbook of microscopy applications in materials science, solid-state physics, and chemistry için kapak resmi
Handbook of microscopy applications in materials science, solid-state physics, and chemistry
Yazar 
Amelinckx, S. (Severin) Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527619283
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Handbook of microscopy applications in materials science, solid-state physics, and chemistry için kapak resmi
Handbook of microscopy applications in materials science, solid-state physics, and chemistry
Yazar 
Amelinckx, S. (Severin) Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: