Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Design and test technology for dependable systems-on-chip için kapak resmi
Design and test technology for dependable systems-on-chip
Yazar 
Ubar, Raimund, 1941- Raik, Jaan, 1972- Vierhaus, Heinrich Theodor, 1951-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=329154
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Structural Decision Diagrams in Digital Test Theory and Applications için kapak resmi
Structural Decision Diagrams in Digital Test Theory and Applications
Yazar 
Ubar, Raimund. author. Raik, Jaan. author. Jenihhin, Maksim. author. Jutman, Artur. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-44734-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
VLSI-SoC: System-on-Chip in the Nanoscale Era - Design, Verification and Reliability 24th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2016, Tallinn, Estonia, September 26-28, 2016, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI-SoC: System-on-Chip in the Nanoscale Era - Design, Verification and Reliability 24th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2016, Tallinn, Estonia, September 26-28, 2016, Revised Selected Papers
Yazar 
Hollstein, Thomas. editor. Raik, Jaan. editor. Kostin, Sergei. editor. Tšertov, Anton. editor. O'Connor, Ian. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-67104-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: