Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
8 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Handheld Total Chemical and Biological Analysis Systems Bridging NMR, Digital Microfluidics, and Semiconductors için kapak resmi
Handheld Total Chemical and Biological Analysis Systems Bridging NMR, Digital Microfluidics, and Semiconductors
Yazar 
Lei, Ka-Meng. author. Mak, Pui-In. author. Law, Man-Kay. author. Martins, Rui Paulo. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-67825-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Computational Advancement in Communication Circuits and Systems Proceedings of ICCACCS 2014 için kapak resmi
Computational Advancement in Communication Circuits and Systems Proceedings of ICCACCS 2014
Yazar 
Maharatna, Koushik. editor. Dalapati, Goutam Kumar. editor. Banerjee, P K. editor. Mallick, Amiya Kumar. editor. Mukherjee, Moumita. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-81-322-2274-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Novel Approaches for Single Molecule Activation and Detection için kapak resmi
Novel Approaches for Single Molecule Activation and Detection
Yazar 
Benfenati, Fabio. editor. Di Fabrizio, Enzo. editor. Torre, Vincent. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-662-43367-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Trap level spectroscopy in amorphous semiconductors için kapak resmi
Trap level spectroscopy in amorphous semiconductors
Yazar 
Mikla, Victor I.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123847157
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Properties of semiconductor alloys group-IV, III-V and II-VI semiconductors için kapak resmi
Properties of semiconductor alloys group-IV, III-V and II-VI semiconductors
Yazar 
Adachi, Sadao, 1950-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470744383
MyiLibrary, Table of contents http://www.myilibrary.com?id=212352&ref=toc
http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9780470744383
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10297966
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Properties of group-IV, III-V and II-VI semiconductors için kapak resmi
Properties of group-IV, III-V and II-VI semiconductors
Yazar 
Adachi, Sadao, 1950- John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0470090340
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/111082133
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Handbook of semiconductor technology için kapak resmi
Handbook of semiconductor technology
Yazar 
Jackson, Kenneth A. Schröter, W. (Wolfgang)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Knovel http://app.knovel.com/web/toc.v/cid:kpHSTV0003
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527619290
HathiTrust Digital Library Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/43030635.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Semiconductor materials analysis and fabrication process control proceedings of Symposium D on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials Analysis and Fabrication Process Control of the 1992 E-MRS Spring Conference, Strasbourg, France, June 2-5, 1992 için kapak resmi
Semiconductor materials analysis and fabrication process control proceedings of Symposium D on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials Analysis and Fabrication Process Control of the 1992 E-MRS Spring Conference, Strasbourg, France, June 2-5, 1992
Yazar 
Symposium D on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials Analysis and Fabrication Process Control (1992 : Strasbourg, France) Crean, G. M. Stuck, R. Woollam, John A. European Materials Research Society.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444899088
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: