Interfacial Compatibility in Microelectronics Moving Away from the Trial and Error Approach

Eylem Seç

Başlık:

Yazar:

Laurila, Tomi. author.

ISBN:

9781447124702

Fiziksel Tanımlama:

IX, 217p. 128 illus., 15 illus. in color. online resource.

Seri:

Microsystems,

Seri Başlığı:

Microsystems, 1389-2134

Konu Terimleri:

Yazar Ek Girişi:

Tüzel Kişi Ek Girişi:

Elektronik Erişim:

Ayırtma:
Kopya:

Kütüphane	Materyal Türü	Demirbaş Numarası	Yer Numarası	Durumu/İade Tarihi	Materyal Ayırtma
Arıyor... Çevrimiçi Kütüphane	E-Kitap	173452-2001	ONLINE	Arıyor... Unknown	Arıyor... Rafta