Başlık:
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Yazar:
Shen, Ruijing. author.
ISBN:
9781461407881
Fiziksel Tanımlama:
XXXI, 305p. 104 illus. online resource.
Tüzel Kişi Ek Girişi:
Elektronik Erişim:
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0788-1Kopya:
Rafta:*
Kütüphane | Materyal Türü | Demirbaş Numarası | Yer Numarası | Durumu/İade Tarihi | Materyal Ayırtma |
|---|---|---|---|---|---|
Arıyor... | E-Kitap | 173778-2001 | ONLINE | Arıyor... | Arıyor... |