Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Measurement technology for micro-nanometer devices için kapak resmi
Measurement technology for micro-nanometer devices
Yazar 
Zhang, Wendong, author.
Yer Numarası 
TA418.9 .N35
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781118717974
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Special Topics in Structural Dynamics, Volume 6 Proceedings of the 33rd IMAC, A Conference and Exposition on Structural Dynamics, 2015 için kapak resmi
Special Topics in Structural Dynamics, Volume 6 Proceedings of the 33rd IMAC, A Conference and Exposition on Structural Dynamics, 2015
Yazar 
Allemang, Randall. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-15048-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: