Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy : SPM Applications for Nanometrology. için kapak resmi
Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy : SPM Applications for Nanometrology.
Yazar 
Klapetek, Petr.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect https://www.sciencedirect.com/science/book/9780128133477
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Proceedings of the 11th European Conference on Thermoelectrics ECT 2013 için kapak resmi
Proceedings of the 11th European Conference on Thermoelectrics ECT 2013
Yazar 
Amaldi, Andrea. editor. Tang, Francois. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-07332-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Silicon heterostructure handbook : materials, fabrication, devices, circuits, and applications of SiGe and Si strained-layer epitaxy için kapak resmi
Silicon heterostructure handbook : materials, fabrication, devices, circuits, and applications of SiGe and Si strained-layer epitaxy
Yazar 
Cressler, John D.
Yer Numarası 
TK7871.96 .B55 S55 2005
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: