Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Wiley InterScience (Online service)
(2)
Abeyratne, Athula I., author.
(1)
Amberti, Daniele, author.
(1)
Amberti, Daniele, contributor.
(1)
American Institute of Chemical Engineers. Center for Chemical Process Safety.
(1)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Reliability (Engineering) -- Statistical methods.
(19)
Electronic books.
(4)
Quality control -- Statistical methods.
(3)
Reliability (Engineering) -- Statistical methods
(3)
JMP (Computer file)
(2)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
27 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Reliability prediction for microelectronics için kapak resmi
Reliability prediction for microelectronics
Yazar 
Bernstein, Joseph B., author. Bensoussan, Alain A., author. Bender, Emmanuel (Carl), author.
Yer Numarası 
TK7874
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394210961
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Applied reliability for industry. 1, Predictive reliability for the automobile, aeronautics, defense, medical, marine and space industries için kapak resmi
Applied reliability for industry. 1, Predictive reliability for the automobile, aeronautics, defense, medical, marine and space industries
Yazar 
El Hami, Abdelkhalak, editor. Delaux, David, editor. Grzeskowiak, Henri, editor.
Yer Numarası 
TA169 .A67 2023
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394208678
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Modeling remaining useful life dynamics in reliability engineering için kapak resmi
Modeling remaining useful life dynamics in reliability engineering
Yazar 
Dersin, Pierre, author.
Yer Numarası 
TS173
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003250685
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Reliability modelling with information measures için kapak resmi
Reliability modelling with information measures
Yazar 
Nair, N. Unnikrishnan, 1945- author. Sunoj, S. M., 1972- author. Rajesh, G., 1971- author.
Yer Numarası 
TA169 .N3526 2022 EB
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003309635
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Design of experiments for reliability achievement için kapak resmi
Design of experiments for reliability achievement
Yazar 
Rigdon, Steven E., 1955- author. Pan, Rong (Professor of reliability engineering), author. Montgomery, Douglas C., author. Freeman, Laura June, author.
Yer Numarası 
TS173 .R54 2022
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119237754
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Statistical modeling of reliability structures and industrial processes için kapak resmi
Statistical modeling of reliability structures and industrial processes
Yazar 
Triantafyllou, Ioannis S., editor. Ram, Mangey, editor.
Yer Numarası 
TA169
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003203124
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Modern industrial statistics : with applications in R, MINITAB and JMP için kapak resmi
Modern industrial statistics : with applications in R, MINITAB and JMP
Yazar 
Kenett, Ron, author. Zacks, Shelemyahu, 1932- author. Amberti, Daniele, author.
Yer Numarası 
TS156 .K46 2021
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119714941
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Applications and metrology at nanometer scale. 1, Smart materials, electromagnetic waves and uncertainties için kapak resmi
Applications and metrology at nanometer scale. 1, Smart materials, electromagnetic waves and uncertainties
Yazar 
Dahoo, Pierre Richard. Pougnet, Philippe. El Hami, Abdelkhalak.
Yer Numarası 
QC88
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119808244
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Achieving Product Reliability : A Key to Business Success. için kapak resmi
Achieving Product Reliability : A Key to Business Success.
Yazar 
Doganaksoy, Necip, 1960- author. Meeker, William Q., author. Hahn, Gerald J., author.
Yer Numarası 
TS156
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003181361
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Stochastic models in reliability engineering için kapak resmi
Stochastic models in reliability engineering
Yazar 
Cui, Lirong, 1960- editor. Frenkel, Ilia, 1950- editor. Lisnianski, Anatoly, editor.
Yer Numarası 
TA169 .S759 2020 EB
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780429331527
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Practical applications of Bayesian reliability için kapak resmi
Practical applications of Bayesian reliability
Yazar 
Liu, Yan, author. Abeyratne, Athula I., author.
Yer Numarası 
QA279.5
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119287995
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Robust statistics : theory and methods (with R) için kapak resmi
Robust statistics : theory and methods (with R)
Yazar 
Maronna, Ricardo A., author. Martin, R. Douglas, author. Yohai, Víctor J., author.
Yer Numarası 
QA276 .M336 2019
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119214656
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: